1. マスクアライナー

    マスクアライナー(露光装置)・ミカサ・MA-10
    (M210408A01)             

    • マスクアライナー
    • 半導体・電子部品装置
  2. EB電源・日本電子(JEOL)・JRF-750(M210108A28)

    RF電源・日本電子(JEOL)・JRF-750
    (M210108A28)

    • RF電源
    • 真空コンポーネント
  3. イオンコーター・日立・E-1010

    イオンスパッタ装置・日立・E-1010
    (M201126A14)

    • スパッタ装置
    • 半導体・電子部品装置
  4. ピーリングテスター(剥離強度試験器)・日本ガータ・NPT-100

    ピーリングテスター(剥離強度試験器)・日本ガータ・NPT-100
    (M210303A04)

    • 電気設備
    • 半導体・電子部品装置
  5. 非接触形状測定装置・ソニープレシジョン・YP21-T07

    非接触形状測定装置・ソニープレシジョン・YP21-T07
    (M210108A12)

    • 形状測定装置
    • 半導体・電子部品装置
  6. デジタルマイクロスコープ・キーエンス・VHX-100F(M210108A17)

    デジタルマイクロスコープ・キーエンス・VHX-100F
    (M210108A17)

    • 顕微鏡
    • 理化学機器
  7. 質量ガス分析計・インフィコン・TSPTT200(M200714A35)

    質量ガス分析計・インフィコン・TSPTT200
    (M200714A35)

    • 質量分析
    • 真空コンポーネント
  8. 粗さ測定器・東京精密・SURFCOM1400D・M201105A01

    粗さ測定器・東京精密・SURFCOM1400D
    (M201105A01)

    • 電気設備
    • 検査機・分析機器
  9. 走査型電子顕微鏡(SEM)・島津・SS-550・M210409A01

    走査型電子顕微鏡(SEM)・島津・SS-550
    (M210409A01)

    • 顕微鏡
    • 検査機・分析機器
  10. SII・膜厚測定装置(走査型プローブ顕微鏡システムSPM)・M200305A03

    膜厚測定装置(走査型プローブ顕微鏡システムSPM)・SII・SPI 3800N、SPA-500
    M200305A03

    • 顕微鏡
    • 検査機・分析機器