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  1. パーティクルカウンター_リオン_KC-01B

    パーティクルカウンター リオン製
    型式:KC-01B (M200702A01)

    • パーティクルカウンター
    • クリーン環境機器
  2. マスクアライナー

    マスクアライナー(露光装置) ミカサ製
    型式:MA-10 (M210408A01)             

    • マスクアライナー
    • 半導体・電子部品装置
  3. EB電源・日本電子(JEOL)・JRF-750(M210108A28)

    RF電源(EB電源) 日本電子製(JEOL)
    型式:JRF-750 (M210108A28)

    • RF電源
    • 真空コンポーネント
  4. 真空蒸着機、日本電子(JEOL)、JEE-450D

    真空蒸着装置・日本電子(JEOL)・JEE-450D
    (M201126A02)

    • 【売却済み:過去の事例】
    • 真空蒸着
    • 真空装置
  5. イオンコーター・日立・E-1010

    イオンスパッタ装置 日立製
    型式:E-1010 (M201126A14)

    • スパッタ装置
    • 半導体・電子部品装置
  6. ピーリングテスター(剥離強度試験器)・日本ガータ・NPT-100

    ピーリングテスター(剥離強度試験器)
    日本ガータ製 型式:NPT-100 (M210303A04)

    • 電気設備
    • 半導体・電子部品装置
  7. 非接触形状測定装置・ソニープレシジョン・YP21-T07

    非接触形状測定装置 ソニープレシジョン製
    型式:YP21-T07 (M210108A12)

    • 形状測定装置
    • 半導体・電子部品装置
  8. デジタルマイクロスコープ・キーエンス・VHX-100F(M210108A17)

    デジタルマイクロスコープ キーエンス製
    型式:VHX-100F (M210108A17)

    • 顕微鏡
    • 理化学機器
  9. 質量ガス分析計・インフィコン・TSPTT200(M200714A35)

    質量ガス分析計 インフィコン製
    型式:TSPTT200 (M200714A35)

    • 質量分析
    • 真空コンポーネント
  10. 粗さ測定器・東京精密・SURFCOM1400D・M201105A01

    粗さ測定器(表面粗さ測定)東京精密製
    型式:SURFCOM1400D (M201105A01)

    • 電気設備
    • 検査機・分析機器
  11. 走査型電子顕微鏡(SEM)・島津・SS-550・M210409A01

    走査型電子顕微鏡(SEM)島津製
    型式:SS-550 (M210409A01)

    • 顕微鏡
    • 検査機・分析機器
  12. SII・膜厚測定装置(走査型プローブ顕微鏡システムSPM)・M200305A03

    膜厚測定装置 SPM(走査型プローブ顕微鏡)
    SII製 型式:SPA-500/SPI 3800N  M200305A03

    • 顕微鏡
    • 検査機・分析機器