走査電子顕微鏡(卓上SEM)日立ハイテク Miniscope TM3000

走査電子顕微鏡(SEM)は試料表面の微細構造の観察及び分析装置として、バイオから半導体、エレクトロニクスまで、多岐にわたる分野で幅広く利用されています。SEMは汎用的なツールである反面、設置場所の制限や、良好な画像を取得するための操作習得や観察条件設定に時間を要する、といったことがあります。本機は、身近に置いて簡単に使用できることをコンセプトにした、小型卓上電子顕微鏡になります。様々な表面加工技術関連やその他すべての技術分野において、表面状態の観察をすることを必要とする場合に威力を発揮します。高倍率での観察ができ、焦点深度の深い立体的な形態観察が可能です。金属コーティングをせず、前処理なしで観察できる低真空観察法が採用されています。低倍率から高倍率の切り替えも瞬時に行え、高感度4分割半導体反射電子検出器を採用しているため、組成情報を強調した画像や凹凸を強調した画像など、異なる画像を得ることができます。

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キーワード(メーカー):日本電子・JEOL・日立ハイテク・島津製作所・リガク・キーエンス・ZEISS・カールッアイツ
キーワード(品名):SEM・TEM・走査電子顕微鏡・透過電子顕微鏡・X線検査装置・X線分析装置・XRD・分析機器・研究機器

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