FIB装置(集束イオンビーム装置)SII製 型式:SMI9200IW (M200131A01)

FIB装置(集束イオンビーム装置)・SII・SMI9200IW

メーカー:SII  型式:SMI9200IW                                   


在庫状況,販売価格,詳細写真・仕様などはこちらからお問い合わせください。
メールによるお問い合わせはこちらから。 

集束イオンビーム装置は、きわめて細く集束したイオンビームを試料表面で走査することにより、発生した二次電子などを検出して顕微鏡像を観察したり、試料表面を加工したりすることのできる装置です。

関連記事

  1. 樹脂吸引輸送装置・松井製作所・JL4-5VC-J

    樹脂ジェットローダー(吸引輸送装置)松井製作所
    型式:JL4-5VC-J (M201223A04)

  2. イオンスパッタ装置 真空デバイス製 MSP-1S-[M221221A05]

  3. 超音波ボルトテンションモニター・DAKOTA ULTRASONICS・MINI-MAX

    超音波ボルト軸力計(Bolt Tension Monitor) DAKOTA製 型番:MINI-MAX[M210929A01]

  4. レーザー測定器 レーザー変位計 キーエンス LT-9500/LT-9010M

  5. 実体顕微鏡 カールツァイス Stemi2000-CS

  6. コーティング機 ANDA製 型式:iCoat-X3 -[M230325A04]

  7. 卓上型培養装置

    培養装置(卓上型)丸菱バイオエンジ製
    型式:MDL-8C (M201007A02)

  8. 自動粉体抵抗測定システム 日東精工 MCP-PD600(PD-600/SP-600/AHP-600)

  9. レーザー変位計 KEYENCE LK-G5000/LK-H050

  10. パルス電源・AVTECH・AVH-SB-B(M210320A09)

    パルス電源 AVTECH製
    型式:AVH-SB-B (M210320A09)

  11. 冷熱衝撃試験機 エスペック製
    型式:TSA-301L-W (M210330A01) 

  12. Thickness Monitor・日本電子(JOEL)・FC-TM10

    Thickness Monitor 日本電子製(JOEL)
    型式:FC-TM10

  13. SII・膜厚測定装置(走査型プローブ顕微鏡システムSPM)・M200305A03

    膜厚測定装置 SPM(走査型プローブ顕微鏡)
    SII製 型式:SPA-500/SPI 3800N  M200305A03

  14. 樹脂材料タンク・松井製作所・TA-95L(M201223A02)

    樹脂材料タンク 松井製作所製
    型式:TA-95L (M201223A02)

  15. 膜厚コントローラー

    膜厚コントローラー(Deposition Controller)
    インフィコン製 型式:IC/5 (M210108A20)

  1. チラー(高性能精密温調装置)HUBER製(英弘精機)UN…

  2. スクロールポンプ アネスト岩田 DVSL-500CS1-[M231…

  3. インプリント装置-真空UV式 エンジニアリングシステ…

  4. 3Dプリンター Stratasys uPrint SE Plus

  5. 恒温恒湿槽 アドバンテック製 THR040FA-[M240209A1…

  6. スクロールポンプ アネスト岩田 ISP-250C

  7. AOI基板外観検査装置 inspec製(インスペック)SX10…

  8. レーザー顕微鏡(超深度形状測定顕微鏡)キーエンス…

  9. レーザー顕微鏡 キーエンス VK-9510

  10. 金型温調機 カワタ製 TW-75LD-[M230317A01]

  1. オートファインコーター(スパッタ装置)日本電子(JE…

  2. プラズマCVD装置(プラズマ窒化装置)ワイエス工業製…

  3. バイオクリーンベンチ ESCO BCB-4E7

  4. モーターポンプ 日機装 HT23C-B2

  5. スクロールポンプ エドワーズ nXDS10i-[M240628A05]

  6. パルスヒートユニット – 接合装置 AVIO PHU-…

  7. AFM – 原子間力顕微鏡 SII(現;日立ハイテク…

  8. 超純水製造装置 ミリポア製 Mill-Q Integral 5 -[M…

  9. エアー吸着マット パイオニア風力機 AM-CB/PV1N-15…

  10. 反射分光膜厚測定装置 大塚電子 FE-3000 

2026年4月
 12345
6789101112
13141516171819
20212223242526
27282930