FIB装置(集束イオンビーム装置)SII製 型式:SMI9200IW (M200131A01)

FIB装置(集束イオンビーム装置)・SII・SMI9200IW

メーカー:SII  型式:SMI9200IW                                   


在庫状況,販売価格,詳細写真・仕様などはこちらからお問い合わせください。
メールによるお問い合わせはこちらから。 

集束イオンビーム装置は、きわめて細く集束したイオンビームを試料表面で走査することにより、発生した二次電子などを検出して顕微鏡像を観察したり、試料表面を加工したりすることのできる装置です。

関連記事

  1. チラー(外部開放系循環装置)・ヤマト科学・品名:クールライン・型式:CLH610

    チラー(外部開放系循環装置)ヤマト科学製
    クールライン 型式:CLH610

  2. デジタルマイクロスコープ キーエンス-KEYENCE VH-5000

  3. マイクロ波電源 IDX製 IMG-2502-[M230622A05]

  4. フィリップチップボンダー

    フリップチップボンダー 東レエンジニアリング製
    型式:FC3000 (M201031A01)  

  5. ガスクロマトグラフ 日立サイエンス G-6000

  6. インテリジェントX線測定器 東洋メテック RaySafe X2

  7. 恒温槽(乾燥機・オーブン)エスペック製PH-400-[M220904A01]

  8. クイックコーター・サンユー電子・SC-701C(M201126A04)

    クイックコーター サンユー電子製
    型式:SC-701C (M201126A04)

  9. 恒温槽 エタック製(楠本製)TL-N001L-[M230309A02]

  10. 真空蒸着装置 アネルバ EVC-1701

  11. スピンコーター ミカサ製 MS-A100-[M230703A01]

  12. レーザー測定器 レーザー変位計 キーエンス LT-9500/LT-9010M

  13. イオンスパッタ装置 JEOL製(サンユー電子)型式:JFC-1500-[M220930A02]

  14. ドラフトチャンバー ヤマト科学製 LDS150 -[M220620A02]

  15. SII・膜厚測定装置(走査型プローブ顕微鏡システムSPM)・M200305A03

    膜厚測定装置 SPM(走査型プローブ顕微鏡)
    SII製 型式:SPA-500/SPI 3800N  M200305A03

  1. 蒸着装置 – カーボンコーター JEOL – …

  2. 協調ロボットアーム オムロン TM5-900

  3. 真空凍結乾燥機 日本フリーザー BFD-6F2

  4. 走査電子顕微鏡(卓上SEM)日立ハイテク Miniscope …

  5. パーティクルカウンター・リオン・KM-33

    パーティクルカウンター リオン製<br>型式:KM-33 …

  6. 紫外線照射機 – UVオゾン洗浄装置 テクノビジ…

  7. RF電源 RFPP RF20S

  8. レーザー顕微鏡 キーエンス VK-9510

  9. クリーンベンチ_日立_PCV1915BE2

    クリーンベンチ 日立製<br>型式;PCV1915BE2 (M210…

  10. リアルタイムスペクトラムアナライザ テクトロニク…

  1. EPMA 電子線マイクロアナライザー 島津製作所 EPMA…

  2. 空冷チラー(冷却水循環装置)EYELA製(東京理化器械…

  3. AFM – 原子間力顕微鏡 SII(現;日立ハイテク…

  4. デジタル・エレクトロメーターDIGTAL ELECTROMETER …

  5. 真空蒸着装置 アルバック VPC-260-[M241210A02]

  6. ターボ分子ポンプ 島津製作所 TMP-151/EI-151G(コ…

  7. イオンスパッタ装置(成膜装置)日立製 E-1020

  8. 恒温恒湿槽 エスペック PR-3J

  9. 蒸着装置 – カーボンコーター JEOL – …

  10. サーモカップル真空計 アネルバ MTG-012

2026年6月
1234567
891011121314
15161718192021
22232425262728
2930