SII

  1. SII・膜厚測定装置(走査型プローブ顕微鏡システムSPM)・M200305A03

    膜厚測定装置 SPM(走査型プローブ顕微鏡)
    SII製 型式:SPA-500/SPI 3800N  M200305A03

    • 走査型プローブ顕微鏡
    • 検査機・分析機器
  2. FIB装置(集束イオンビーム装置)・SII・SMI9200IW

    FIB装置(集束イオンビーム装置)SII製
    型式:SMI9200IW (M200131A01)

    • 顕微鏡
    • 検査機・分析機器