SII

  1. SII・膜厚測定装置（走査型プローブ顕微鏡システムSPM）・M200305A03

    膜厚測定装置　SPM（走査型プローブ顕微鏡）
    SII製　型式：SPA-500/SPI 3800N　 M200305A03

    • 【売却済み：過去の事例】
    • 顕微鏡
    • 検査機・分析機器
  2. FIB装置（集束イオンビーム装置）・SII・SMI9200IW

    FIB装置（集束イオンビーム装置）SII製
    型式：SMI9200IW （M200131A01）

    • 顕微鏡
    • 検査機・分析機器

トップページに戻る

2件中 1〜2件を表示