SII

  1. SII・膜厚測定装置(走査型プローブ顕微鏡システムSPM)・M200305A03

    膜厚測定装置(走査型プローブ顕微鏡システムSPM)・SII・SPI 3800N、SPA-500
    M200305A03

    • 顕微鏡
    • 検査機・分析機器
  2. FIB装置(集束イオンビーム装置)・SII・SMI9200IW

    FIB装置(集束イオンビーム装置)・SII・SMI9200IW
    (M200131A01)

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