膜厚測定装置 SPM(走査型プローブ顕微鏡)
SII製 型式:SPA-500/SPI 3800N  M200305A03

SII・膜厚測定装置(走査型プローブ顕微鏡システムSPM)・M200305A03

メーカー:SII  型式:SPI 3800NとSPA-500(セット)                            


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商品紹介:半導体製造装置、真空装置、ポンプ、計測器