膜厚測定装置（走査型プローブ顕微鏡システムSPM）・SII・SPI 3800N、SPA-500
M200305A03

SII・膜厚測定装置（走査型プローブ顕微鏡システムSPM）・M200305A03

メーカー：SII　　型式：SPI 3800NとSPA-500（セット）　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　

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商品紹介：半導体製造装置、真空装置、ポンプ、計測器