膜厚測定装置(走査型プローブ顕微鏡システムSPM)・SII・SPI 3800N、SPA-500
M200305A03

SII・膜厚測定装置(走査型プローブ顕微鏡システムSPM)・M200305A03

メーカー:SII  型式:SPI 3800NとSPA-500(セット)                            


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商品紹介:半導体製造装置、真空装置、ポンプ、計測器