走査型プローブ顕微鏡

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    • 半導体製造装置検査機・分析機器

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    メーカー:PACIFIC NANOTECHNOLOGY型式:Nano-R AFM 0-020-0000AFM/原子間力顕微鏡ナノプロービングとは、信頼性、性能に悪…

  1. SII・膜厚測定装置(走査型プローブ顕微鏡システムSPM)・M200305A03
    • 【売却済み:過去の事例】
    • 顕微鏡走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡
    • 検査機・分析機器

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    SII製 型式:SPA-…

    膜厚測定装置(走査型プローブ顕微鏡システムSPM)・SII・SPA-500

  2. 原子間力顕微鏡(AFM)、di、Dimension8300
    • 【売却済み:過去の事例】
    • 半導体ウェハー走査型電子顕微鏡走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡集束イオンビーム顕微鏡
    • 半導体製造装置検査機・分析機器

    原子間力顕微鏡(AFM)Digital Instruments製 型式:Di…

    メーカー:Digital Instruments 型式:Dimension8300                                在…

  3. 電子線マイクロアナライザー(EPMA)
    • 走査型電子顕微鏡走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡集束イオンビーム顕微鏡電子線マイクロアナライザー(EPMA)
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    電子線マイクロアナライザー(EPMA)島津製
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    メーカー:島津製作所  型式:EPMA-1600                                   在庫状況…

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