走査型プローブ顕微鏡

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    • 原子間力顕微鏡AFM走査型プローブ顕微鏡
    • 半導体製造装置検査機・分析機器

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    メーカー:PACIFIC NANOTECHNOLOGY型式:Nano-R AFM 0-020-0000AFM/原子間力顕微鏡ナノプロービングとは、信頼性、性能に悪…

  1. SII・膜厚測定装置(走査型プローブ顕微鏡システムSPM)・M200305A03
    • 【売却済み:過去の事例】
    • 顕微鏡走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡
    • 検査機・分析機器

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    SII製 型式:SPA-…

    膜厚測定装置(走査型プローブ顕微鏡システムSPM)・SII・SPA-500

  2. 原子間力顕微鏡(AFM)、di、Dimension8300
    • 【売却済み:過去の事例】
    • 半導体ウェハー走査型電子顕微鏡走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡集束イオンビーム顕微鏡
    • 半導体製造装置検査機・分析機器

    原子間力顕微鏡(AFM)Digital Instruments製 型式:Di…

    メーカー:Digital Instruments 型式:Dimension8300                                在…

  3. 電子線マイクロアナライザー(EPMA)
    • 走査型電子顕微鏡走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡集束イオンビーム顕微鏡電子線マイクロアナライザー(EPMA)
    • 半導体製造装置検査機・分析機器

    電子線マイクロアナライザー(EPMA)島津製
    型式:EPMA-1600…

    メーカー:島津製作所  型式:EPMA-1600                                   在庫状況…

  1. 恒温槽 エスペック PH-402

  2. ツインコーター JEOL製(日本電子)JEC-550 –…

  3. 電離真空計 イオンゲージ アネルバ M-922HG 測定…

  4. エネルギー分散型X線分析装置 島津製作所 EDX-720

  5. パーティクルカウンター・リオン・KM-33

    パーティクルカウンター リオン製<br>型式:KM-33 …

  6. クリーンベンチ_日立_PCV1915BE2

    クリーンベンチ 日立製<br>型式;PCV1915BE2 (M210…

  7. エアー吸着マット パイオニア風力機 AM-CB/PV1N-15…

  8. 真空蒸着装置 アルバック VPC-260-[M241210A02]

  9. 高温恒温槽(イナートオーブン) ヤマト科学 DN-43…

  10. ドラフトチャンバー オリエンタル技研 RCG-ST-1200E

  1. 恒温恒湿試験器 エスペック PWL-3KP

  2. ターボ分子ポンプ LEYBOLD TURBOVAC 361 (コント…

  3. 冷却水循環装置(水冷チラー)オリオン機械 RKED220…

  4. ターボ分子ポンプ PFEIFFER SplitFlow 290/TC110

  5. 赤外線ランプ加熱装置 アドバンス理工 QHC-P610CP

  6. マッチングコントローラー AS-TECH RC-11

  7. 表面粗さ測定(魔鏡/透明体測定) レイテックス製 …

  8. ドライポンプ BOC EDWARDS エドワーズ QDP40

  9. 露光装置 日本電池 MAN250NLJ/MRL250SM

  10. ターボ分子ポンプ BOC EDWARDS STP-300

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