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  1. SII・膜厚測定装置（走査型プローブ顕微鏡システムSPM）・M200305A03

    膜厚測定装置　SPM（走査型プローブ顕微鏡）
    SII製　型式：SPA-500/SPI 3800N　 M200305A03

    • 【売却済み：過去の事例】
    • 顕微鏡
    • 検査機・分析機器

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