膜厚測定装置 SPM(走査型プローブ顕微鏡)
SII製 型式:SPA-500/SPI 3800N  M200305A03

SII・膜厚測定装置(走査型プローブ顕微鏡システムSPM)・M200305A03

メーカー:SII  型式:SPI 3800NとSPA-500(セット)                            


在庫状況,販売価格,詳細写真・仕様などはこちらからお問い合わせください。
メールによるお問い合わせはこちらから。 

関連記事

  1. スパッタ装置 – オスミウム・プラズマコーター 日本レーザー電子 NL-OPC60N

  2. 恒温槽(乾燥機・オーブン)エスペック製PH-400-[M220904A01]

  3. バイオクリーンベンチ ESCO製 型式:BCB-3E7 -[M221216a02]

  4. セラミック電気管状炉

    セラミック電気管状炉 アサヒ理化製
    型式:ARF-50MC (M200714A13)

  5. 顕微鏡システム ZEISS Discvery v20 – [M240104A20]

  6. EPMA 電子線マイクロアナライザー 島津製作所 EPMA-1610

  7. 卓上防振台 特許機器製 TAP-34NS1-[M230704A10]

  8. 実体顕微鏡 ニコン-Nikon SMZ645

  9. 内視鏡カメラ、Watson、EC 1000

    内視鏡カメラ(ボアスコープ)Watson製
    型式:EC1000

  10. 超純水製造装置

    超純水製造装置 メルクミリポア製
    型式:Mill-Q A10 (M190329A01)

  11. 自動粉体抵抗測定システム 日東精工 MCP-PD600(PD-600/SP-600/AHP-600)

  12. 防爆オーブン エタック製(ETAC/楠本)HT-220S-[M230531A05]

  13. コーティング機 ANDA製 型式:iCoat-X3 -[M230325A04]

  14. 反射分光膜厚測定装置 大塚電子 FE-3000 

  15. 電子天秤 ザリトリウス – SARTORIUS MSE324S-000-DU

  1. 倒立顕微鏡 ニコン – Nikon ECLIPSE TS100

  2. FE-SEM 走査型電子顕微鏡 JEOL 日本電子 JSM-6700F

  3. ドライエッチング装置・ナノテック・NCP-400(M210108A04)

    ドライエッチング装置 ナノテック製<br>型式:NCP-4…

  4. 真空排気装置 アルバック機工 VPC-050

  5. 恒温恒湿槽 エスペック PR-3J

  6. 6軸ロボットアーム ファナック製(FANUC)LR Mate 2…

  7. 粒子径分布測定装置-粒度分布計 堀場製作所-HORIBA…

  8. EPMA 電子線マイクロアナライザー 島津製作所 EPMA…

  9. イオンスパッタ装置(成膜装置)日立製 E-1020-[M22…

  10. マニュアルプローバー 日本マイクロニクス 705B-[M…

  1. 恒温恒湿槽 エスペック LHL-114 

  2. 真空蒸着装置 – イオンプレーティング装置 島…

  3. ターボ分子ポンプ PFEIFFER SplitFlow 290/TC110

  4. FE-SEM 走査型電子顕微鏡 JEOL 日本電子 JSM-6700F

  5. 高信頼性電源(CVCC)・菊水電子工業・PAN600-2A(M201222A01)

    高信頼性電源(CVCC)菊水電子工業製<br>型式:PAN60…

  6. スパッタ装置 – オスミウム・プラズマコーター…

  7. 表面粗さ測定(魔鏡/透明体測定) レイテックス製 …

  8. 高温恒温槽(イナートオーブン) ヤマト科学 DN-43…

  9. レーザー変位計 KEYENCE LK-G5000/LK-H050

  10. オートファインコーター(スパッタ装置)日本電子(JE…

2026年5月
 123
45678910
11121314151617
18192021222324
25262728293031