FE-SEM 走査型電子顕微鏡　JEOL 日本電子　JSM-6700F

走査型電子顕微鏡　FE-SEM　電界放射型走査電子顕微鏡
メーカー：JEOL　日本電子　型式：JSM-6700F
分解能：1.0nm（加速電圧15kV時）2.2nm（加速電圧1kV時） 
加速電圧：0.5～30 kV　倍率：×25 ～ ×650,000

走査電子顕微鏡（SEM）は試料表面の微細構造の観察及び分析装置として、バイオから半導体、エレクトロニクスまで、多岐にわたる分野で幅広く利用されています。様々な表面加工技術関連やその他すべての技術分野において、表面状態の観察をすることを必要とする場合に威力を発揮します。高倍率での観察ができ、焦点深度の深い立体的な形態観察が可能です。本機は、試料に電子線を当てて、試料表面の形態、微細構造を観察する装置です。電界放射型（FE）であるため、汎用のＷフィラメントを用いたSEMに比べて高輝度、高分解能な像観察が可能です。また、セミインレンズ方式であるため、短焦点での観察が可能であり、高い分解能が得られます。

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キーワード（メーカー）：日本電子・JEOL・日立ハイテク・島津製作所・リガク・キーエンス・ZEISS・カールッアイツ
キーワード（品名）：電界放射型走査電子顕微鏡・FE SEM・TEM・透過電子顕微鏡・クイックコーター・X線分析装置

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