検査機・分析機器

各種顕微鏡、分析装置、形状測定装置、外観検査装置

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- レーザー発振器レーザー機器レーザー測長器レーザー変位計
- 検査機・分析機器電気計測器・電気部品その他の産業機械
レーザー変位計　キーエンス　LK-G3000／LK-G30

レーザー変位計（セット品）センサー／コントローラーメーカー：キーエンス（KEYENCE）型式：LK-G30／LK-G3000高さ・厚み測定…
- 顕微鏡金属顕微鏡光学顕微鏡倒立顕微鏡
- 理化学機器・光学機器検査機・分析機器
倒立顕微鏡　ニコン – Nikon　ECLIPSE TS100

倒立顕微鏡　メーカー：ニコン（Nikon）　型式：ECLIPSE TS100対物レンズ①：CFI Plan Fluor DL 4X (NA0.13/WD16.4mm)対物レン…
- 【売却済み：過去の事例】
- スクロールポンプ真空ポンプ
- 真空ポンプ検査機・分析機器
ドライスクロールポンプ　アジレントテクノロジー　IDP-3

ドライスクロールポンプ　油回転式真空ポンプメーカー：アジレントテクノロジー　型式：IDP-3排気速度：50/60 L/min到達圧力…
- クロマトグラフガスクロマトグラフ
- 検査機・分析機器
ガスクロマトグラフ　日立サイエンス　G-6000

ガスクロマトグラフ（GC）メーカー：日立サイエンス型式：G-6000強制循環式空気恒温槽方式ガスクロマトグラフ（GC）とは、気…
- 顕微鏡実体顕微鏡マイクロスコープ光学顕微鏡
- 理化学機器・光学機器検査機・分析機器
実体顕微鏡　ニコン-Nikon　C-PS

顕微鏡　双眼顕微鏡　光学顕微鏡　メーカー：ニコン（Nikon）型式：C-PS実体顕微鏡は、光学顕微鏡の一種であり、双眼実体顕微…
- 理化学電子天秤（計量器）研究機器ラボ用機器
- 理化学機器・光学機器検査機・分析機器
電子天秤　ザリトリウス – SARTORIUS　MSE324S-…

電子天秤　精密天秤　メーカー：ザリトリウス - SARTORIUS型式：MSE324S-000-DUMax. 320g　e=0.1g電子はかり（電子天秤・精密…
- ナノインデンター走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡AFM
- 半導体製造装置検査機・分析機器
AFM – 原子間力顕微鏡　SII（現；日立ハイテクサイエンス）…

AFM - 原子間力顕微鏡 - Atomic Force Microscopeメーカー：SII(現・日立ハイテクサイエンス)　　型式：SPA-550Le-Type2SPM　…
- 走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡AFM
- 半導体製造装置検査機・分析機器
ナノプローバー　PACIFIC NANOTECHNOLOGY　Nano-R …

メーカー：PACIFIC NANOTECHNOLOGY型式：Nano-R AFM 0-020-0000AFM／原子間力顕微鏡ナノプロービングとは、信頼性、性能に悪…
- 蛍光分光光度計
- 検査機・分析機器
蛍光分光光度計　日立　F-4500

蛍光分光光度計　メーカー：日立ハイテクサイエンス型式：F-4500分光蛍光光度計は、物質に光を照射して発生する「蛍光」の波…
- 粒度分布計粒子径分布測定装置質量分析分析器研究機器成分分析
- 理化学機器・光学機器検査機・分析機器
粒子径分布測定装置-粒度分布計　堀場製作所-HORIBA　LA-300

粒子径分布測定装置　粒度分布計　メーカー：堀場製作所（HORIBA）型式：LA-300粒子径分布測定装置とは、物質中の微小な粒子…
- 粗さ計表面粗さ計
- 検査機・分析機器
表面粗さ測定（魔鏡／透明体測定）　レイテックス製　YIS-SP

表面粗さ測定（魔鏡／透明体測定）メーカー：レイテックス　型式：YIS-SP透明体の表面粗さ測定には、接触式と非接触式があり…
- 顕微鏡マイクロスコープ金属顕微鏡
- 理化学機器・光学機器検査機・分析機器
金属顕微鏡　オリンパス-olympus　BH2-UMA

金属顕微鏡　射型顕微鏡　落射型顕微鏡　光学顕微鏡　メーカー：オリンパス（olympus）型式：BH2-UMA金属顕微鏡とは、射型顕…
- 【売却済み：過去の事例】
- 粉体抵抗測定システム
- 検査機・分析機器
自動粉体抵抗測定システム　日東精工　MCP-PD600（PD-600/SP-…

自動粉体抵抗測定システム　低効率測定システムメーカー：日東精工型式MCP-PD600最大荷重：20kN（約60MPa）粉体ユニット・油…
- プラズマCVD装置プラズマコータースパッタ装置
- 真空装置真空コンポーネント検査機・分析機器
スパッタ装置 – オスミウム・プラズマコーター　日本レーザー電子…

オスミウム・プラズマコーター　導電性薄膜作製装置メーカー：日本レーザー電子型式：NL-OPC60Nオスミウム・プラズマコーター…
- 【売却済み：過去の事例】
- 引張試験機引張圧縮試験機オートグラフ
- 検査機・分析機器
オートグラフ（精密万能試験機）島津製作所　AGS-X, 10N –…

オートグラフ　精密万能試験機（引張・圧縮・曲げ・ねじり）メーカー：島津製作所型式：AGS-X 10N-10kN（AGS-Xシリーズ）最大…
- 【売却済み：過去の事例】
- 形状測定装置測定器引張試験機引張圧縮試験機膜厚測定装置表面性試験機
- 検査機・分析機器その他の産業機械
表面性試験機　HEIDON　TYPE:14FW

表面性試験機　HEIDON - 新藤科学摩擦試験／摩耗試験／引掻試験／粘着測定静摩擦-動摩擦測定／表面引掻き硬さ測定べた付き測…
- 表面分析装置表面粗さ計膜厚計膜厚測定装置
- 半導体製造装置検査機・分析機器
反射分光膜厚測定装置　大塚電子　FE-3000　

反射分光膜厚計　多層膜測定装置　顕微膜厚計メーカー：大塚電子型式：FE-3000対応波長域：190nm～1600nm顕微を用いた微小領…
- 【売却済み：過去の事例】
- 顕微鏡実体顕微鏡画像処理システム
- 理化学機器・光学機器検査機・分析機器
実体顕微鏡　カールツァイス　Stemi2000-CS

顕微鏡観察システムメーカー：ZEISS（カールツァイス）型式：Stemi2000-CSこの顕微鏡は、高水準のコントラストと1.9～225倍の…
- クリーンベンチパーティクルカウンタークリーンユニットクリーンブースクリーンルーム
- 検査機・分析機器クリーン環境機器
パーティクルカウンター　ベックマン　HHPC 2+

メーカー：ベックマン　型式：HHPC 2+Particle Size Analysis Range：0.5 - 5 μmSample Volume：5 µmパーティクルカウンター…
- レーザースキャンマイクロメーター半導体レーザーYAGレーザーレーザー機器レーザー測長器レーザースキャンシステム
- 検査機・分析機器
レーザースキャンマイクロメーター　ミツトヨ　LSM-6200 / LSM-5…

レーザ測長システム　レーザスキャンマイクロメーター非接触・高精度・インラインメーカー：ミツトヨ　型式：LSM-6200 / LSM-…

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