検査機・分析機器

走査型電子顕微鏡、蛍光X線分析装置、質量ガス分析装置、放射温度計、集束イオンビーム装置、三次元表面形状測定装置

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  1. SEM 電子顕微鏡
    • 顕微鏡走査型電子顕微鏡
    • 検査機・分析機器

    SEM 走査型電子顕微鏡(3Dリアルサーフェスビュー顕微鏡)
    キーエン…

    メーカー:キーエンス(Keyence)  型式:VE-8800                                  …

  2. 走査型電子顕微鏡(SEM)・島津・SS-550・M210409A01
    • 顕微鏡走査型電子顕微鏡
    • 検査機・分析機器

    走査型電子顕微鏡(SEM)島津製
    型式:SS-550 (M210409…

    走査型電子顕微鏡(SEM)・島津・SS-550

  3. X線解析装置、リガク、RINT-Ultima3
    • 【売却済み:過去の事例】
    • X線分析装置
    • 半導体・電子部品装置検査機・分析機器

    X線回折装置 リガク製
    型式:RINT-Ultima3 (M20062…

    メーカー:リガク  型式:RINT-Ultima3                                  在庫状況,販…

  4. デジタルマイクロスコープ・キーエンス・VHX-100F(M210108A17)
    • 顕微鏡デジタルマイクロスコープ
    • 理化学機器検査機・分析機器

    デジタルマイクロスコープ キーエンス製
    型式:VHX-100F (M2…

    デジタルマイクロスコープ、メーカー:キーエンス(KEYENCE)、型式:VHX-100F

  5. SII・膜厚測定装置(走査型プローブ顕微鏡システムSPM)・M200305A03
    • 【売却済み:過去の事例】
    • 顕微鏡走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡
    • 検査機・分析機器

    膜厚測定装置 SPM(走査型プローブ顕微鏡)
    SII製 型式:SPA-…

    膜厚測定装置(走査型プローブ顕微鏡システムSPM)・SII・SPA-500

  6. 電子線マイクロアナライザー(EPMA)
    • 走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡集束イオンビーム顕微鏡電子線マイクロアナライザー(EPMA)走査型電子顕微鏡
    • 半導体・電子部品装置検査機・分析機器

    電子線マイクロアナライザー(EPMA)島津製
    型式:EPMA-1600…

    メーカー:島津製作所  型式:EPMA-1600                                   在庫状況…

  7. FIB装置(集束イオンビーム装置)・SII・SMI9200IW
    • 集束イオンビーム顕微鏡顕微鏡
    • 検査機・分析機器

    FIB装置(集束イオンビーム装置)SII製
    型式:SMI9200IW …

    FIB装置(集束イオンビーム装置)・SII・SMI9200IW

  8. 原子間力顕微鏡(AFM)、di、Dimension8300
    • 【売却済み:過去の事例】
    • 集束イオンビーム顕微鏡半導体ウェハー走査型電子顕微鏡走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡
    • 半導体・電子部品装置検査機・分析機器

    原子間力顕微鏡(AFM)Digital Instruments製
    型式…

    メーカー:Digital Instruments 型式:Dimension8300                                在…

  9. 膜厚コントローラー
    • 【売却済み:過去の事例】
    • 真空部品膜厚コントローラー
    • 真空コンポーネント検査機・分析機器

    膜厚コントローラー(Deposition Controller)
    イン…

    メーカー:インフィコン  型式:IC/5在庫状況,販売価格,詳細写真・仕様などはこちらからお問い合わせください。 メールによ…

  10. マクロ検査装置VP、micro-MX System、VMB-1200P-M
    • 半導体ウェハー
    • 半導体・電子部品装置検査機・分析機器

    ウェハー表面検査装置 Micro MAX System ビジョンサイテック製…

    メーカー:ビジョン サイテック(Vision Psytec)  型式:VMB-1200P-M                         …

  11. デジタル内視鏡・TESLONG・NTS300
    • 内視鏡カメラ
    • 検査機・分析機器ユーティリティ設備

    デジタル内視鏡(ハンドヘルド産業用ボアスコープ)
    TESLONG製 型…

    デジタル内視鏡・TESLONG・NTS300

  12. ピーリングテスター(剥離強度試験器)・日本ガータ・NPT-100
    • 電気設備
    • 半導体・電子部品装置検査機・分析機器

    ピーリングテスター(剥離強度試験器)
    日本ガータ製 型式:NPT-10…

    ピーリングテスター(剥離強度試験器)・日本ガータ・NPT-100

  1. 冷却水循環装置(水冷チラー)オリオン機械製 RKS15…

  2. ドライポンプ 樫山製 NeoDry-36C-[M220718A01]]

  3. ドライポンプ 樫山製 NeoDry60EU-082C-[M231212A01]

  4. CO2インキュベーター サンヨー製 MCO-96-[M230718A…

  5. 恒温恒湿槽 アドバンテック製 THR040FA-[M240209A1…

  6. スピンコーター ミカサ製 MS-B100-[M240310A09]

  7. 引張圧縮試験機 ORIENTEC(オリエンテック)STA-115…

  8. クリーンベンチ 昭和科学 S-1300WV-[M240209A01]

  9. X線分析装置 SII SEA2120L-[M230512A07]

  10. 表面粗さ計 テイラーホブソン NewForm-[M230314A01]

  1. チラー(外部開放系循環装置)・ヤマト科学・品名:クールライン・型式:CLH610

    チラー(外部開放系循環装置)ヤマト科学製<br>クー…

  2. スクロールポンプ・アルバック・DIS-500・M200414A05

    スクロールポンプ アルバック製<br>型式:DIS-500

  3. 真空蒸着装置 日本電子製(JEOL)<br>型式:JEE-400

  4. FIB装置(集束イオンビーム装置)・SII・SMI9200IW

    FIB装置(集束イオンビーム装置)SII製<br>型式:SMI…

  5. 紫外線照射装置・アイグラフィック・UB011-5A,B MH

    紫外線照射装置(UV照射装置) アイグラフィック製<…

  6. 恒温恒湿槽

    恒温恒湿槽 エスペック製<br>型式:PR-2KT (M20121…

  7. DC電源・菊水電子工業・PAD10-1000LET(M210303A05)

    DC電源 菊水電子製 型式:PAD16-1000LET (M210303…

  8. クライオポンプ・アルバック・CRYO-U6H・M210320A04

    クライオポンプ アルバック製<br>型式:CRYO-U6H (…

  9. 樹脂吸引輸送装置・松井製作所・JL4-5VC-J

    樹脂ジェットローダー(吸引輸送装置)松井製作所<br…

  10. クリーンベンチ・日本医機械・VS-1600A

    バイオクリーンベンチ 日本医科器械<br>型式:VS-16…

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