SII

  1. X線分析装置　SII　SEA2120L-[M230512A07]
  2. SII・膜厚測定装置（走査型プローブ顕微鏡システムSPM）・M200305A03

    膜厚測定装置　SPM（走査型プローブ顕微鏡）
    SII製　型式：SPA-500/SPI 3800N　 M200305A03
  3. FIB装置（集束イオンビーム装置）・SII・SMI9200IW

    FIB装置（集束イオンビーム装置）SII製
    型式：SMI9200IW （M200131A01）

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