走査型プローブ顕微鏡

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    • AFMナノインデンター走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡
    • 半導体製造装置検査機・分析機器

    AFM – 原子間力顕微鏡 SII(現;日立ハイテクサイエンス)…

    AFM - 原子間力顕微鏡 - Atomic Force Microscopeメーカー:SII(現・日立ハイテクサイエンス)  型式:SPA-550Le-Type2SPM …

    • 原子間力顕微鏡AFM走査型プローブ顕微鏡
    • 半導体製造装置検査機・分析機器

    ナノプローバー PACIFIC NANOTECHNOLOGY Nano-R …

    メーカー:PACIFIC NANOTECHNOLOGY型式:Nano-R AFM 0-020-0000AFM/原子間力顕微鏡ナノプロービングとは、信頼性、性能に悪…

  1. SII・膜厚測定装置(走査型プローブ顕微鏡システムSPM)・M200305A03
    • 【売却済み:過去の事例】
    • 顕微鏡走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡
    • 検査機・分析機器

    膜厚測定装置 SPM(走査型プローブ顕微鏡)
    SII製 型式:SPA-…

    膜厚測定装置(走査型プローブ顕微鏡システムSPM)・SII・SPA-500

  2. 原子間力顕微鏡(AFM)、di、Dimension8300
    • 【売却済み:過去の事例】
    • 半導体ウェハー走査型電子顕微鏡走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡集束イオンビーム顕微鏡
    • 半導体製造装置検査機・分析機器

    原子間力顕微鏡(AFM)Digital Instruments製 型式:Di…

    メーカー:Digital Instruments 型式:Dimension8300                                在…

  3. 電子線マイクロアナライザー(EPMA)
    • 走査型電子顕微鏡走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡集束イオンビーム顕微鏡電子線マイクロアナライザー(EPMA)
    • 半導体製造装置検査機・分析機器

    電子線マイクロアナライザー(EPMA)島津製
    型式:EPMA-1600…

    メーカー:島津製作所  型式:EPMA-1600                                   在庫状況…

  1. マスクアライナー 露光装置 ミカサ製 MA-20-[M240…

  2. 粒子径分布測定装置-粒度分布計 堀場製作所-HORIBA…

  3. 恒温器(防爆仕様)エスペック ESPEC LU-114

  4. 真空蒸着装置 アネルバ EVC-1701

  5. ピエゾステージ/ドライバ/コントローラ Messtek製 …

  6. スクロールポンプ アネスト岩田 ISP-250C

  7. 空冷チラー ユニットクーラー オリオン機械 RKS15…

  8. 非接触形状測定装置・ソニープレシジョン・YP21-T07

    非接触形状測定装置 ソニープレシジョン製<br>型式…

  9. 表面性試験機 HEIDON TYPE:14FW

  10. デジタルリンクアナライザー・ANDO安藤・AE1421(M210114A05)

    デジタルリンクアナライザー ANDO製(安藤)<br>型…

  1. スパッタ装置 – オスミウム・プラズマコーター…

  2. ロータリーポンプ-油回転式真空ポンプ バリアン HS…

  3. 電離真空計 イオンゲージ アネルバ M-922HG 測定…

  4. チラー(外部開放系循環装置)・ヤマト科学・品名:クールライン・型式:CLH610

    チラー(外部開放系循環装置)ヤマト科学製<br>クー…

  5. 恒温恒湿槽 アドバンテック製 THR040FA-[M240209A1…

  6. 表面粗さ測定(魔鏡/透明体測定) レイテックス製 …

  7. 高信頼性電源(CVCC)・菊水電子工業・PAN600-2A(M201222A01)

    高信頼性電源(CVCC)菊水電子工業製<br>型式:PAN60…

  8. モーターポンプ 日機装 HT23C-B2

  9. スクロールポンプ エドワーズ nXDS10i-[M240628A05]

  10. プラズマクリーナー ムサシノ電子製(FISCHIONE) …

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