メーカー：オリンパス 型式：KIF-202
KIF-202Lは顕微鏡・光ピックアップなどの製造で培った小径測定技術を用いて開発した小型で使いやすい干渉計です。 光通信、ビデオ、情報機器などの光学素子を高精度に測定できます。測定倍率は2.5×に拡大できるため小さな物の測定に便利です。
レーザー干渉計は平面、球面、半球面など、サンプルの形状によらず測定が可能であるため幅広い分野で表面解析に使われています。
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キーワード（メーカー）レニショー・キャノン・キーサイト・アメテック・ZYGO・ミカサ・日本レーザー・富士フィルム
キーワード（品名）マイクロスコープ・形状測定装置・外観検査装置・光学顕微鏡・金属顕微鏡・レーザー干渉計
